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Etikett: IR-Abfall

Bei der elektrischen Regelprüfung von IC-Layouts sind Softchecks erforderlich – Semiwiki

IC-Designs verfügen außerdem über physikalische Verifizierungsanwendungen wie Layout Versus Schematic (LVS) auf Transistorebene, um sicherzustellen, dass Layout und Schaltpläne gleichwertig sind ...

Top Nachrichten

Der nächste Schritt von Calibre – Correct-by-Construction IC Layout Optimization – Semiwiki

Der nächste Schritt von Siemens EDA in seiner Calibre-Shift-Left-Strategie ist die Hinzufügung einer konstruktionskorrekten IC-Layout-Optimierung für die kritischsten neuen physikalischen...

Abmilderung von Spannungsabfällen

Spannungsabfall, auch IR-Abfall genannt, ist ein Phänomen, das auftritt, wenn sich der Strom im Stromversorgungsnetz aufgrund von ... abrupt ändert.

Power-Delivery-Netzwerkanalyse im DRAM-Design

Meine Karriere als IC-Designer begann 1978 mit DRAM-Design, daher habe ich die Entwicklungen in diesem Bereich im Auge behalten...

Automatisierter zeitgesteuerter dynamischer Spannungsabfall ECO in der Spätphase

Systems & Design MEINUNG Warum sofortiges Feedback zwischen ECO- und DVD-Analyse so wichtig ist. ...

Startup-Finanzierung: Dezember 2022

Im Monat Dezember gab es sechs Runden von 100 Millionen Dollar oder mehr. Das größte, mit einer massiven halben Milliarde Dollar, wird die Herstellung von 12-Zoll-...

Minimierung der EM/IR-Auswirkungen auf die Zuverlässigkeit und Leistung des IC-Designs

Von Joel Mercier und Karen Chow Da Technologien und Foundry-Prozessknoten immer weiter voranschreiten, wird es immer schwieriger, integrierte Schaltungen zu entwerfen und zu verifizieren...

Jenseits von 5 nm: Überprüfung von vergrabenen Stromschienen und rückseitiger Stromversorgung

Ein neues technisches Papier mit dem Titel „A Holistic Evaluation of Buried Power Rails and Back-Side Power for Sub-5 nm Technology Nodes“ wird von Forschern vorgestellt...

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