Nhãn: khuyết tật bán dẫn

Phân tích chính xác và chi tiết hơn về các khuyết tật bán dẫn trong ảnh SEM bằng SEMI-PointRend

Semiconductor 10 Tháng ba, 2023

Một bài viết kỹ thuật có tiêu đề “SEMI-PointRend: Phân loại và phân đoạn khuyết tật wafer bán dẫn được cải tiến khi kết xuất” đã được các nhà nghiên cứu tại imec, Đại học Ulsan,...

Tin tức hàng đầu

Học tập tích cực để giảm yêu cầu dữ liệu để xác định khiếm khuyết trong sản xuất chất bán dẫn

Semiconductor 24 Tháng Mười

Tìm các khiếm khuyết của Wafer bằng Quantum DL

Semiconductor 13 Tháng Sáu, 2022

Không có bài viết để hiển thị

Tin tức mới nhất