Een divergente bundel en quasi-monochromatische straling van een afgesloten röntgenbuis kunnen worden gebruikt om kromtrekkingsmetingen uit te voeren door XRDI in het laboratorium.
Abstract:
"Röntgendiffractiebeeldvorming (XRDI) (topografie) metingen van kromtrekken van siliciummatrijs binnen volledig verpakte commerciële quad-flat no-lead-apparaten worden beschreven. Met behulp van synchrotronstraling is aangetoond dat de kanteling van de roostervlakken in de Analog Devices AD9253-matrijs aanvankelijk daalt, maar na 100 ° C weer stijgt. De draaiing over de matrijswafel valt lineair met een toename in temperatuur. Bij 200 °C varieert de kanteling ongeveer lineair met de positie, dat wil zeggen de verplaatsing varieert kwadratisch langs de matrijs. De kromtrekking is ongeveer omkeerbaar bij afkoeling, wat suggereert dat het een eenvoudige paraboloïde vorm heeft voorafgaand aan inkapseling; het complexe kantelen en draaien is het resultaat van het polymerisatieproces. Er worden haalbaarheidsstudies gerapporteerd, die aantonen dat een divergente bundel en quasi-monochromatische straling van een afgesloten röntgenbuis kan worden gebruikt om kromtrekkingsmetingen door XRDI in het laboratorium uit te voeren. Bestaande gereedschappen hebben beperkingen vanwege de geometrie van de röntgenoptiek, waardoor ze alleen toepasbaar zijn op eenvoudige kromtrekkingsstructuren. De noodzakelijke aanpassingen die nodig zijn voor gebruik in situaties van complexe kromtrekking, bijvoorbeeld in meerdere met elkaar verbonden pakketten, worden gespecificeerd.”
Bekijk deze open toegang technisch papier hier. Gepubliceerd 03/2021.
Tanner, B., McNally, P., & Danilewsky, A. (2021). Röntgenbeeldvorming van siliciummatrijs in volledig verpakte halfgeleiderapparaten. Poederdiffractie, 36(2), 78-84. doi:10.1017/S088571562100021X
