이 비디오는 키스킷.

모니터링되는 양자 회로는 특정 측정 속도에서 얽힘 전이를 나타냅니다. 이러한 전환은 관찰자가 측정 결과로부터 얼마나 많은 정보를 배울 수 있는지에 따라 단계를 구분합니다. 우리는 정확한 수치를 사용하여 SU(2) 대칭 모니터링 양자 회로를 연구합니다. 대칭의 비아벨적 특성으로 인해 큐비트 쌍을 측정하면 측정 전용 한계에서도 사소한 얽힘 확장이 가능합니다. 우리는 부피법칙 얽힌 위상과 확산 정화 역학이 비아벨 대칭에서 나타나는 임계 위상 사이의 전환을 찾습니다. 또한, 우리는 "스핀 샤프닝 전환"을 식별합니다. 전이 과정에서 측정을 통해 총 스핀 양자 수에 대한 정보가 공개되는 속도는 시스템 크기에 따라 매개변수적으로 변경됩니다. 우리는 효과적인 통계 역학 모델로 수치를 보완합니다.

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