현재 칩렛 시스템에 접근하는 방법은 다양합니다. 하나는 제조업체가 모든 구성요소를 자체적으로 개발하고 시운전 및 조립 감독도 담당하는 폐쇄형 시스템을 갖는 것입니다. 이 시나리오에서는 모든 것이 해당 회사 내에서 조정되며 표준이 필요하지 않습니다.

또 다른 하나는 개방형 칩렛 시스템을 구축하는 것입니다. 이 접근 방식은 여러 회사의 요구 사항을 충족하는 새로운 시스템 개발을 지원하므로 훨씬 더 큰 미래 시장을 활용합니다. 개방형 칩렛 시스템 접근 방식은 전체 시스템의 일부가 될 하나 이상의 칩렛 개발에 집중하려는 스타트업과 같은 기업에 특히 유용합니다. 이러한 방식으로 그들은 다른 구성 요소에 대해 걱정할 필요 없이 혁신적인 아이디어를 완전히 실현할 수 있습니다.

이러한 개방형 칩렛 시스템을 구현하려면 관련 표준을 확립해야 합니다. 현재 표준화 노력은 다양한 구성 요소를 연결하는 인터페이스에 중점을 두고 있습니다. UCIe와 BoW는 이 분야에서 표준화를 추진하는 가장 주목받는 업체입니다.

오늘날 다양한 회사에서는 데이터 센터에서 자동차, 계측에 이르기까지 다양한 애플리케이션에서 칩렛에 대한 수요가 증가하고 있으며, 후자는 다양한 회로 기술의 이종 통합에 중점을 두고 있습니다. 그러나 개방형 칩렛 시스템과 관련된 과제는 애플리케이션마다 다릅니다. 자동차 분야에서 주요 과제 중 하나는 부팅 프로세스와 개별 구성 요소 및 전체 시스템의 보안에 있습니다. 데이터 센터 애플리케이션의 경우 전체 시스템이 제대로 작동하는지 확인하는 데 중점을 둡니다. 그리고 측정 장비 분야에서는 서로 다른(어떤 경우에는 "이국적인") 회로 기술의 이종 통합을 촉진하는 것이 우선순위이며, 이를 위해서는 해당 인터페이스를 배치해야 합니다.

이러한 과제를 극복한다는 것은 현재 인터페이스에 구현되고 있는 것보다 훨씬 더 많은 것을 포괄하는 추가 표준을 확립하는 것을 의미합니다. 부팅 프로세스와 칩렛 시스템 활성화에 일관성을 제공하는 표준에 대한 수요가 분명히 있습니다. 개별 회로와 관련하여 일부 개발(예: JTAG를 통해)이 이루어졌지만 이는 크게 확장되어야 하며 아직 칩렛에 적용할 수 없습니다. 더욱이, 칩렛 시스템 전체와 개별 구성 요소 모두에 대한 보안을 보장하기 위한 표준이 필요합니다. 이러한 표준은 강력한 공급망, 시스템 개발, 애플리케이션 소프트웨어의 안전하고 인증된 설치에 대한 요구 사항을 포함한 다양한 측면을 다루어야 합니다.

데이터 센터와 자동차 산업의 일부 영역에서 사용되는 개방형 칩렛 시스템의 경우 향후 성능 요구 사항에는 전원 공급 측면에서 훨씬 더 큰 유연성이 필요합니다. 표준은 주로 사용 중인 다양한 전압 수준과 관련하여 필요하며, 각각의 전압 수준은 밀리암페어에서 수백 암페어에 이르는 전기 공급에 대한 수요가 매우 다양합니다. 그러나 여기서도 표준화 분야에서는 눈에 띄는 노력이 이루어지지 않고 있습니다.

칩렛 시스템 테스트를 위한 표준이 이제 곧 출시될 예정이지만 추가 요구 사항을 충족하려면 여전히 확장해야 합니다. 앞으로 이러한 표준은 테스트 자체뿐만 아니라 활성화 및 결함 위치 파악을 위한 프로세스에 대한 해당 액세스도 다루어야 합니다. 모든 칩렛 시스템에는 활성화 프로세스에 대한 액세스가 필요합니다. 해당 단계에서 시스템이 오작동하는 경우 무엇이 잘못되었는지 알아내는 유일한 방법은 파괴 테스트를 통해서이기 때문입니다. 더욱이 결함의 원인을 합리적으로 잘 파악하는 것이 중요합니다. 그렇게 되면 시스템을 더 이상 추가 테스트에 사용할 수 없게 되기 때문입니다. 결함 위치 파악을 관리하는 표준은 자동차 애플리케이션에 특히 중요합니다. 표준을 충족하는 것이 인증 기관의 승인을 얻을 수 있는 유일한 방법이기 때문입니다.