リガク半導体計測部門リガクフェロー、マーカス・クーン博士。

半導体計測分野でX線ソリューションを提供するという緒方博士の明確なビジョンを持った革新的な企業であるRigakuに参加できることを光栄に思います。

東京（PRWEB） 2021 年 10 月 13 日

X線分析機器の世界的リーダーであるリガク株式会社（本社：東京都昭島市、社長：池田敏幸、「リガク」）は、リガクセミコンダクターのリガクフェローにマーカス・クーン博士を任命したことを発表しました。メトロロジー部門（RSMD）。 インテルアンドデジタルイクイップメントコーポレーションでの25年間の卓越したキャリアの後、クーン博士はリガクに貴重な経験をもたらし、半導体計測の高度なソリューションの開発を支援するために使用します。

半導体製造の複雑さは劇的に増しており、クーン博士の知識と経験はRSMDとその顧客にとって大きな資産となるでしょう。 クーン博士は、リガクの副社長兼RSMDの責任者である有名な緒方清博士と緊密に協力します。 この職務において、彼は独自の業界洞察を使用して、RSMDの将来を見据えた取り組みを形作り、その計測ソリューションが半導体業界の将来の要件に確実に一致するようにします。

インテルおよびデジタルイクイップメントコーポレーション在籍中、クーン博士は、半導体技術の目標を達成するための幅広い薄膜および表面分析機能の開発と実装を担当し、インテルの画期的なひずみであるHigh-Kの主要な技術的貢献者でした。 /メタルゲート、FinFET、および高度なメモリプログラム。 彼はまた、100を超える査読付き論文を発表し、半導体技術に関連する30を超える特許を保有しています。

最近では、機器サプライヤー、大学の研究者、国立研究所、コンソーシアムパートナーと協力して、インテルの材料分析パスファインディングの取り組みを主導しました。 高度な分析機能と機械学習の専門知識を組み合わせることで、RSMDが新しいテクノロジーを利用した半導体計測の最前線にとどまるのを支援する立場にあります。

クーン博士の任命について、緒方博士は「半導体産業の将来の要件に合わせることがRSMDにとって非常に重要であり、クーン博士は私たちの研究開発を導く貴重な経験をもたらします」と述べました。

クーン博士は、次のように述べています。「半導体計測分野でX線ソリューションを提供するという緒方博士の明確なビジョンを持つ革新的な企業であるリガクに参加できることを光栄に思います。 業界での経験を活用して、新しい機会と成長を可能にし、お客様に高度な計測ソリューションを提供できることを楽しみにしています。」

クーン博士は、半導体製造を解決するためのX線ベースの測定ツール（X線回折、蛍光X線、X線反射率測定）の設計と製造のパイオニアであり世界的リーダーであるリガクの献身的で才能のある個人のチームに参加します課題。 リガクの製品は、インファブプロセス制御計測から薄膜および材料の特性評価のための研究開発まで、あらゆるものを可能にします。

リガク半導体計測部門について

RSMDは、半導体製造の課題を解決するためのX線ベースの測定ツールを設計および製造しています。 半導体業界で40年近く世界市場をリードしてきたリガクの計測ツールは、蛍光X線（XRF）、X線回折（XRD）、X線反射率測定（XRR）、および臨界小角X線を採用しています。光線散乱（CD-SAXS）技術により、インファブプロセス制御計測から薄膜および材料の特性評価のためのR＆Dまですべてが可能になります。

リガク株式会社について

リガク株式会社は1951年の創業以来、最先端の分析・産業機器にX線・熱分析をコア技術として提供してきました。 現在、日本だけでなく、米国、ヨーロッパ、中国、その他の地域に拠点を置く理学グループは、汎用蛍光X線回折（XRD）、薄膜分析の分野で高度な役割を果たしています。 （XRF、XRD、XRR）、蛍光X線分析（TXRF、EDXRF、WDXRF）、小角X線散乱分析（SAXS）、タンパク質および小分子X線結晶構造解析、ラマン分光法、X-光線光学素子、半導体検査（TXRF、XRF、XRD、XRR）、X線発生器、CTスキャナー、非破壊検査、および熱分析。 リガクは、X線および関連技術に関する豊富な知識を活用することにより、顧客との協力関係を構築し、学会や業界を通じてグローバルにパートナーシップ、コミュニケーション、イノベーションを推進してきました。 リガクは、タンパク質構造解析、ナノテクノロジー開発、汎用蛍光X線回折（XRD）、蛍光X線解析（XRF）、材料解析、品質保証など、幅広い分野に統合ソリューションを提供していきます。

詳細については、をご覧ください。 http://www.rigaku.com.

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