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Le Dr Markus Kuhn nommé membre de la Rigaku Semiconductor Metrology…

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Dr Markus Kuhn, Rigaku Fellow de la division Rigaku Semiconductor Metrology.

Dr Markus Kuhn, Rigaku Fellow de la division Rigaku Semiconductor Metrology.

Je suis honoré et ravi de rejoindre Rigaku, une entreprise innovante avec une vision claire du Dr Ogata pour fournir des solutions à rayons X dans le domaine de la métrologie des semi-conducteurs.

Rigaku Corporation (Siège social : Akishima-shi, Tokyo ; Président : Toshiyuki Ikeda ; « Rigaku »), un leader mondial de l'instrumentation analytique à rayons X, a le plaisir d'annoncer la nomination du Dr Markus Kuhn en tant que Rigaku Fellow de Rigaku Semiconductor. Division de Métrologie (RSMD). Après une brillante carrière de 25 ans chez Intel et Digital Equipment Corporation, le Dr Kuhn apporte à Rigaku une expérience inestimable qu'il utilisera pour guider le développement de solutions avancées pour la métrologie des semi-conducteurs.

La complexité de la fabrication des semi-conducteurs augmente considérablement, et les connaissances et l'expérience du Dr Kuhn constitueront un atout considérable pour le RSMD et ses clients. Le Dr Kuhn travaillera en étroite collaboration avec le célèbre Dr Kiyoshi Ogata, vice-président exécutif de Rigaku et chef du RSMD. À ce titre, il utilisera ses connaissances uniques de l'industrie pour façonner les efforts prospectifs du RSMD afin de garantir que ses solutions de métrologie s'alignent sur les exigences futures de l'industrie des semi-conducteurs.

Au cours de sa période chez Intel et Digital Equipment Corporation, le Dr Kuhn était responsable du développement et de la mise en œuvre d'une large gamme de capacités d'analyse de couches minces et de surfaces pour aider à atteindre les objectifs technologiques des semi-conducteurs et a été un contributeur technique clé à la technologie révolutionnaire d'Intel, à haute teneur en K. /porte métallique, FinFET et programmes de mémoire avancés. Il a également publié plus de 100 articles avec comité de lecture et détient plus de 30 brevets relatifs à la technologie des semi-conducteurs.

Plus récemment, il a dirigé les efforts d'Intel en matière d'analyse des matériaux en collaborant avec des fournisseurs d'instruments, des chercheurs universitaires, des laboratoires nationaux et des partenaires de consortiums. Combiné avec une expertise en capacités analytiques avancées et en apprentissage automatique, il est bien placé pour aider le RSMD à rester à la pointe de la métrologie des semi-conducteurs utilisant les technologies émergentes.

Commentant la nomination du Dr Kuhn, le Dr Ogata a déclaré : « L'alignement sur les exigences futures de l'industrie des semi-conducteurs est très important pour le RSMD et le Dr Kuhn apporte une expérience inestimable qui guidera notre recherche et développement.

Le Dr Kuhn a répondu : « Je suis honoré et ravi de rejoindre Rigaku, une entreprise innovante avec une vision claire du Dr Ogata pour fournir des solutions à rayons X dans le domaine de la métrologie des semi-conducteurs. J'ai hâte de mettre à profit mon expérience du secteur pour contribuer à créer de nouvelles opportunités et de croissance, et à fournir des solutions de métrologie avancées à nos clients.

Le Dr Kuhn rejoint une équipe de personnes dévouées et talentueuses chez Rigaku, pionnier et leader mondial dans la conception et la fabrication d'outils de mesure basés sur les rayons X (diffraction des rayons X, fluorescence des rayons X et réflectométrie des rayons X) pour résoudre les problèmes de fabrication de semi-conducteurs. défis. Les produits Rigaku permettent tout, depuis la métrologie de contrôle des processus en usine jusqu'à la R&D pour la caractérisation des couches minces et des matériaux.

À propos de la division Rigaku Semiconductor Metrology

Le RSMD conçoit et fabrique des outils de mesure basés sur les rayons X pour résoudre les défis de fabrication de semi-conducteurs. Avec près de 40 ans de leadership sur le marché mondial dans l'industrie des semi-conducteurs, les outils de métrologie Rigaku utilisent la fluorescence des rayons X (XRF), la diffraction des rayons X (XRD), la réflectométrie des rayons X (XRR) et l'analyse X aux petits angles de dimension critique. techniques de diffusion de rayons (CD-SAXS), permettant tout, de la métrologie de contrôle des processus en usine à la R&D pour la caractérisation des couches minces et des matériaux.

À propos de la société Rigaku

Depuis sa création en 1951, Rigaku Corporation a fourni des équipements analytiques et industriels de pointe avec les rayons X et l'analyse thermique comme technologies de base. Aujourd'hui, basé non seulement au Japon, mais également aux États-Unis, en Europe, en Chine et dans d'autres parties du monde, le groupe Rigaku joue un rôle avancé dans les domaines de la diffraction des rayons X (DRX) à usage général, de l'analyse des couches minces (XRF, XRD, XRR), analyse par fluorescence X (TXRF, EDXRF, WDXRF), analyse par diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS), analyse de la structure cristalline des protéines et des petites molécules, spectroscopie Raman, X- éléments optiques à rayons, inspection des semi-conducteurs (TXRF, XRF, XRD, XRR), générateurs de rayons X, tomodensitomètres, inspection non destructive et analyse thermique. En tirant parti de sa connaissance approfondie des rayons X et des technologies associées, Rigaku a noué des relations de collaboration avec ses clients et favorisé les partenariats, la communication et l'innovation à l'échelle mondiale par le biais des sociétés universitaires et des industries. Rigaku continuera à fournir des solutions intégrées pour une grande variété de domaines, notamment l'analyse de la structure des protéines, le développement des nanotechnologies, la diffraction des rayons X (XRD) à usage général, l'analyse par fluorescence des rayons X (XRF), l'analyse des matériaux et l'assurance qualité.

Pour plus d'informations, veuillez consulter http://www.rigaku.com.

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Source : https://www.prweb.com/releases/dr_markus_kuhn_appointed_fellow_of_the_rigaku_semiconductor_metrology_division/prweb18257900.htm

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